ČSN EN 1330-4 (zruš.) - Nedestruktivní zkoušení - Terminologie - Část 4: Termíny používané při zkoušení ultrazvukem
| Stáhnout normu: | ČSN EN 1330-4 (zruš.) (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN. |
| Datum vydání/vložení: | 2010-07-01 |
| Třidící znak: | 015005 |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
- 2.1.1 frekvence
- 2.1.2 mezní frekvence
- 2.1.3 jmenovitá frekvence
- 2.1.4 zkušební frekvence
- 2.1.5 frekvenční spektrum
- 2.1.6 střední frekvence
- 2.1.7 maximální frekvence
- 2.1.8 šířka pásma
- 2.1.9 relativní šířka pásma
- 2.2.1 vlna
- 2.2.2 čelo vlny
- 2.2.3 vlnová délka
- 2.2.4 amplituda
- 2.2.5 fáze
- 2.2.6 sled vln
- 2.2.7 kontinuální spojitá vlna
- 2.2.8 stacionární vlna
- 2.2.9 impulz
- 2.2.10 amplituda impulzu
- 2.2.11 energie impulzu
- 2.2.12 tvar impulzu
- 2.2.13 obalová křivka impulzu
- 2.2.14 trvání impulzu
- 2.2.15 opakovací frekvence
- 2.2.16 širokopásmový impulz
- 2.2.17 úzkopásmový impulz
- 2.2.18 střední pásmo impulzu
- 2.2.19 doznívání impulzu
- 2.2.20 náběh impulzu
- 2.2.21 spektrum impulzu
- 2.2.22 doba průchodu
- 2.3.1 podélná vlna longitudinální vlna tlaková vlna
- 2.3.2 desková vlna
- 2.3.3 Rayleighova vlna
- 2.3.4 příčná vlna
- 2.3.5 plíživá vlna
- 2.3.6 válcová vlna
- 2.3.7 kulová vlna
- 2.3.8 rovinná vlna
- 3.1.1 ultrazvuková vlna
- 3.1.2 měnič
- 3.1.3 piezoelektrický měnič
- 3.1.4 X–měnič
- 3.1.5 Y–měnič
- 3.1.6 fokusující měnič
- 3.1.7 elektromagnetický akustický měnič
- 3.1.8 magnetostrikční měnič
- 3.2.1 fázová rychlost
- 3.2.2 blízké pole
- 3.2.3 vzdálené pole
- 3.2.4 grupová rychlost
- 3.2.5 pásmo ohniska
- 3.2.6 ohnisko
- 3.2.7 interference vlny
- 3.2.8 akustické pole
- 3.2.9 rychlost zvuku
- 3.2.10 akustický svazek
- 3.2.11 osa svazku
- 3.2.12 profil akustického svazku
- 3.2.13 úhel rozevření
- 3.2.14 okraj svazku
- 3.2.15 akustické vlastnosti
- 3.2.16 anizotropní materiál
- 3.2.17 rozevření svazku
- 3.2.18 řízení svazku
- 3.2.19 šířka akustického svazku
- 3.2.20 ohnisková vzdálenost
- 3.2.21 délka rozsahu ohniska
- 3.2.22 šířka rozsahu ohniska
- 3.3.1 útlum zvuku
- 3.3.2 koeficient útlumu
- 3.3.3 akustická impedance
- 3.3.4 absorpce
- 3.3.5 koeficient absorpce
- 3.3.6 rozptyl energie
- 3.4.1 rozhraní
- 3.4.2 lom
- 3.4.3 index lomu
- 3.4.4 úhel lomu
- 3.4.5 úhel dopadu
- 3.4.6 kritický úhel
- 3.4.7 odraz
- 3.4.8 zrcadlový reflektor
- 3.4.9 okrajový efekt
- 3.4.10 přesazení akustického svazku při odrazu
- 3.4.11 koeficient odrazu
- 3.4.12 úhel odrazu
- 3.4.13 totální odraz
- 3.4.14 transformace druhu vlny
- 3.4.15 akustický stín
- 3.4.16 koeficient průchodu
- 3.4.17 úhel svazku
- 3.4.18 kompozitní materiál
- 3.4.19 úhel sondy
- 3.4.20 frekvence sondy
- 4.1.1 sonda
- 4.1.2 sonda s jedním měničem
- 4.1.3 fokusující sonda
- 4.1.4 array sonda
- 4.1.5 přímá sonda
- 4.1.6 sonda povrchových vln
- 4.1.7 sonda podélných vln sonda s longitudinální vlnou
- 4.1.8 odvalovací sonda bantamová sonda
- 4.1.9 sonda příčných vln
- 4.1.10 dvojitá sonda
- 4.1.11 sonda přizpůsobená tvaru povrchu
- 4.1.12 úhel sondy a sondy s proměnným úhlem
- 4.1.12.1 úhlová sonda
- 4.1.12.2 sonda se šikmým svazkem
- 4.1.12.3 sonda s proměnným úhlem
- 4.1.13 osa sondy
- 4.1.14 úhel šilhavosti
- 4.1.15 bod výstupu sondy
- 4.1.16 jmenovitý úhel sondy
- 4.1.17 lomový hranol
- 4.1.18 tlumicí těleso měniče
- 4.1.19 tlumicí schopnost (tlumicího tělesa měniče)
- 4.1.20 faktor tlumení sondy
- 4.1.21 dráha zpoždění
- 4.1.22 efektivní rozměr měniče
- 4.1.23 mozaikový měnič
- 4.1.24 předsádka bota sondy
- 4.1.25 ochranná vrstva
- 4.1.26 střešní úhel
- 4.1.27 oblast konvergence
- 4.1.28 konvergenční vzdálenost
- 4.1.29 phased array sonda
- 4.1.30 rozměr měniče
- 4.1.31 piezoelektrický kompozitní měnič
- 4.1.32 zpožďovacítěleso
- 4.2 Zkušební zařízení
- 4.2.1 zkušební zařízení
- 4.2.2 ultrazvukový přístroj
- 4.2.3 hloubkové vyrovnání
- 4.2.4 mrtvá zóna
- 4.2.5 citlivost zařízení pro zjistitelnost vad
- 4.2.6 zpoždění časové základny posuv impulzu
- 4.2.7 ovládač zesílení
- 4.2.8 dynamický rozsah
- 4.2.9.1 laterální rozlišení
- 4.2.9.2 axiální rozlišení
- 4.2.10 odřez šumu odřez trávy
- 4.2.11 časová základna
- 4.2.12 rozsah časové základny
- 4.2.13 nastavení časové základny
- 4.2.14 clona monitoru
- 4.2.15 monitor
- 4.2.16 spínací úroveň clony
- 4.2.17 zesilovač
- 4.2.18 lineární zesilovač
- 4.2.19 logaritmický zesilovač
- 4.2.20 analogově-číslicový převodník
- 4.2.21 zeslabovač
- 4.2.22 číslicová chyba
- 4.2.23 vysílací impulz
- 4.2.24 proporcionání výstup
- 4.2.25 proporcionální clona
- 4.2.26 přijímač
- 4.2.27 vysílač
- 4.2.28 ultrazvukový zkušební systém
- 4.2.29 ultrazvuková elektronika
- 4.2.30 zobrazovací jednotka průběhu signálu
- 4.3.1 kalibrační měrka
- 4.3.2 referenční měrka
- 4.3.3 referenční echo
- 4.3.4 zkušební měrka
- 5.1.1 technika vícenásobných ech
- 5.1.2 průchodová technika
- 5.1.3 imerzní technika
- 5.1.4 impulzová technika
- 5.1.5 technika měření doby průchodu
- 5.1.6 skenování
- 5.1.7 přímé skenování
- 5.1.8 nepřímé skenování
- 5.1.9 technika vícenásobným odrazem
- 5.1.9.1 V-průchod svazku
- 5.1.9.2 W-průchod svazku
- 5.1.10 technika jednou sondou
- 5.1.11 technika dvěma sondami
- 5.1.12 tandemová technika
- 5.1.13 kontaktní technika zkoušení
- 5.1.14 mezerová technika zkoušení
- 5.1.15 dráha v akustické vazbě
- 5.1.16 orbitální skenování
- 5.1.17 vějířovité skenování
- 5.1.18 skenování po spirále
- 5.1.19 ruční skenování
- 5.1.20 automatizované skenování
- 5.1.21 technika určení velikosti vady
- 5.1.22 akustická holografie
- 5.1.23 akustické zobrazení
- 5.1.24 akustická tomografie
- 5.1.25 skenování šikmým svazkem
- 5.1.26 automatizované zkoušení ultrazvukem
- 5.1.27 automatizovaný ultrazvukový zkušební systém
- 5.1.28 shromažďování dat
- 5.1.29 redukce dat
- 5.1.30 měření mezi náběžnými hranami
- 5.1.31 vývojový diagram
- 5.1.32 způsoby měření
- 5.1.33 šikmý dopad
- 5.1.34 měření mezi vrcholy
- 5.1.35 skenování přímým svazkem
- 5.2.1 skenovaný povrch
- 5.2.2 zkoušený objem
- 5.2.3 směr skenování
- 5.2.4 orientace sondy
- 5.2.5 bod výstupu svazku
- 5.2.6 bod příjmu echa
- 5.2.7 zkušební plocha
- 5.2.8 stupeň kvality
- 5.3.1 akustické přizpůsobení
- 5.3.2 vazba
- 5.3.3 korekce ztrát přenosem
- 5.3.4 ztráty vazbou
- 5.3.5 techniky vazby
- 5.4.1 reflektor
- 5.4.2 referenční reflektor
- 5.5.1 indikace vysílacího impulzu
- 5.5.2 echo
- 5.5.3 koncové echo
- 5.5.4 šířka echa
- 5.5.5 výška echa
- 5.5.6 vadové echo
- 5.5.7 rušivé echo
- 5.5.8 Přeslech
- 5.5.8.1 přeslech (sondy)
- 5.5.8.2 přeslech (přístroje)
- 5.5.9 vícenásobné echo
- 5.5.10 echo od rozhraní
- 5.5.11 bludné echo
- 5.5.12 indikace od šumu
- 5.5.13 odstup signálu od šumu
- 5.5.14 nulový bod
- 5.5.15 roztažení časové základny
- 5.5.16 A-zobrazení
- 5.5.17 B-zobrazení
- 5.5.18 C-zobrazení
- 5.5.19 D-zobrazení
- 5.5.20 F-zobrazení
- 5.5.21 zobrazení objemu
- 5.5.22 P-zobrazení
- 5.5.23 vf-signál
- 5.5.24 usměrněný signál
- 5.5.25 odezva zobrazovací jednotky
- 5.5.26 tvar echa
- 5.5.27 dynamický tvar echa
- 5.5.28 statický tvar echa
- 5.5.29 indikace
- 5.5.30 linearita časové základny
- 5.5.31 horizontální linearita
- 5.5.32 vertikální linearita
- 5.5.33 úroveň šumu
- 5.5.34 průchod nulou
- 5.6.1 akustická dráha
- 5.6.2 trajektorie prošlé akustické dráhy
- 5.6.3 doba průchodu
- 5.6.4 délka kroku
- 5.6.5 hloubka reflektoru
- 5.7.1 posouzení velikosti vady
- 5.7.2 odrazivost
- 5.7.3 směrová odrazivost
- 5.7.4 DGS-diagram; AVG-diagram a DGS-metoda, AVG-metoda
- 5.7.4.1 DGS-diagram
- 5.7.4.2 DGS-metoda
- 5.7.5 DAC křivka vzdálenost-amplituda a DAC-metoda
- 5.7.5.1 DAC-křivka referenční linie
- 5.7.5.2 DAC-metoda
- 5.7.6 metoda referenční měrky
- 5.7.7 technika poloviční amplitudy
- 5.7.8 referenční úroveň
- 5.7.9 stupeň přípustnosti
- 5.7.10 úroveň pro registraci
- 5.7.11 citlivost zkoušení
- 5.7.12 úroveň pro zobrazení
- 5.7.13 úroveň pro hodnocení
- 5.7.14 charakterizace indikace
- 5.7.15 klasifikace indikace
- 5.7.16 shluk indikací
- 5.7.17 celková délka indikací
- 5.7.18 technika fokusace syntetickou aperturou (SAFT)
‹
Nahlásit chybu
3.1.4 X–měnič
řez krystalem křemene vedený tak, že krystalografická osa je kolmá k povrchům, na kterých jsou připevněny elektrody, a generující podélné vlny
3.1.4 X-cut crystal
quartz crystal cut in such a way that its crystallographic axis is perpendicular to the surfaces to which the electrodes are attached, and generates longitudinal waves