Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN IEC 60050-561 - celková změna tloušťky; TTV

ČSN IEC 60050-561 - Mezinárodní elektrotechnický slovník –Část 561: Piezoelektrické, dielektrickéa elektrostatické součástky a souvisící materiálypro řízení a výběr kmitočtu a detekci

Stáhnout normu:

ČSN IEC 60050-561 (Zobrazit podrobnosti)

Změny:

Změna A1 | Datum vydání/vložení: 2017-08-01

Změna A2 | Datum vydání/vložení: 2021-01-01

Změna A3 | Datum vydání/vložení: 2021-10-01

Změna A4 | Datum vydání/vložení: 2022-05-01

Datum vydání/vložení:

2015-11-01

Zdroj:

http://www.electropedia.org/iev/iev.nsf/SearchView?SearchView&Query=field+SearchFields+contains+561+and+field+Language=en&SearchOrder=4&SearchMax=0

Třidící znak:

330050

Obor:

Terminologie - Mezinárodní slovník

ICS:

01.040.31 - Elektronika (názvosloví)
29.020 - Elektrotechnika obecně
31.140 - Piezoelektrické a dielektrické součástky

Stav:

Platná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

561-07-37 celková změna tloušťky; TTV

rozdíl mezi největší d1 a nejmenší d2 tloušťkou desky, jak je znázorněno na obrázku 1

Obrázek 1 – Schematický nákres celkové změny tloušťky TTV
POZNÁMKA 1 k heslu Měření celkové změny tloušťky (TTV) se provádí v upnutém stavu s referenční rovinou stanovenou v IEV 561-07-27, poznámka 1 k heslu, bod 1.

561-07-37 total thickness variation; TTV

difference between the maximum thickness d1 and the minimum thickness d2 of a wafer as shown in Figure 1

Figure 1 – Schematic diagram of a TTV
Note 1 to entry: Measurement of TTV is performed on a clamped wafer with the reference plane as defined in IEV 561-07-27, Note 1 to entry, item 1