Nacházíte se:
Domů »
Terminologická databáze »
ČSN IEC 60050-523 - hrot (sondy) vetknutý mikronosník
ČSN IEC 60050-523 - Mezinárodní elektrotechnický slovník – Část 523: Mikroelektromechanické součástky
Stáhnout normu: | ČSN IEC 60050-523 (Zobrazit podrobnosti) | |
Změny: |
|
|
Datum vydání/vložení: | 2019-06-01 | |
Zdroj: | http://www.electropedia.org/iev/iev.nsf/welcome?OpenForm&Seq=1 | |
Třidící znak: | 330050 | |
Obor: | Terminologie - Mezinárodní slovník | |
ICS: |
|
|
Stav: | Platná |
‹
Nahlásit chybu
523-04-06 hrot (sondy) vetknutý mikronosník
hrot (sondy) vytvořený mikroopracováním
POZNÁMKA 1 k heslu Hroty (sondy) jsou často využívány v mikroskopech s vysokým rozlišením, jako je mikroskop atomární síly (AFM).
[ZDROJ: IEC 62047-1:2016, 2.4.17]
523-04-06 microcantilever
cantilever produced by micromachining
Note 1 to entry: Microcantilevers are often used in high-resolution microscopes such as the atomic force microscope (AFM).
SOURCE: IEC 62047-1:2016, 2.4.17