Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Termíny vztahující se k technikám rozptylů

ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu

Stáhnout normu:	ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2016-11-01
Zdroj:	https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en
Třidící znak:	012003
Obor:	Nanotechnologie
ICS:	01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví) 07.120 - Nanotechnologie
Stav:	Neplatná

2.1 nanostupnice
2.2 nanoobjekt
2.3 nanočástice
2.4 nanodeska
2.5 nanotyč
2.6 nanovlákno
2.7 nanotrubice
2.8 kvantová tečka
2.9 částice
2.10 aglomerát
2.11 agregát
2.12 aerosol
2.13 suspenze
3.1.1 velikost částice
3.1.2 distribuce velikosti částice
3.1.3 tvar částice
3.1.4 poměr stran
3.1.5 ekvivalentní průměr
3.2 Termíny vztahující se k technikám rozptylů
3.2.1 gyrační poloměr
3.2.2 maloúhlový rozptyl neutronů, SANS
3.2.3 neutronová difrakce
3.2.4 maloúhlový rozptyl rentgenového záření, SAXS
3.2.5 rozptyl světla
3.2.6 hydrodynamický průměr
3.2.7 dynamický rozptyl, světla DLS, fotonová korelační spektroskopie, PCS, kvazielastický rozptyl, světla, QELS
3.2.8 analýza trajektorie pohybu, nanočástice, NTA, analýza trajektorie pohybu částice, PTA
3.3.1 kondenzační čítač částic, CPC
3.3.2 diferenciální klasifikátor elektrické mobility, DEMC
3.3.3 diferenciální systém analyzující mobilitu, DMAS
3.3.4 Faraday cup elektrometr aerosolu, FCAE
3.4.1 frakcionalizace tokem v poli, FFF
3.4.2 odstředivá sedimentace kapaliny, CLS, odstředivá diferenciální sedimentace, DCS
3.4.3 rozměrově vylučovací chromatografie, SEC
3.4.4 snímání elektrické zóny, Coulter čítač
3.5 Termíny vztahující se k mikroskopii
3.5.1 mikroskopie skenující sondou, SPM
3.5.2 mikroskopie atomárních sil, AFM, skenovací silová mikroskopie (zastaralé), SFM (zastaralé)
3.5.3 rastrovací tunelová mikroskopie, STM
3.5.4 optická skenovací mikroskopie v blízkém poli, NSOM, optická skenovací mikroskopie blízkého pole, SNOM
3.5.5 skenovací elektronová mikroskopie, SEM
3.5.6 transmisní elektronová mikroskopie, TEM
3.5.7 skenovací transmisní elektronová mikroskopie, STEM
3.5.8 nízkoenergetická elektronová mikroskopie, LEEM
3.5.9 skenovací iontová mikroskopie
3.5.10 optická konfokální mikroskopie
3.5.11 elipsometrická kontrastní mikroskopie zesíleného povrchu, SEEC mikroskopie
3.5.12 fluorescence
3.5.13 fluorescenční mikroskopie
3.5.14 totální interní odrazová fluorescenční mikroskopie, TIRF mikroskopie
3.5.15 super rozlišovací mikroskopie
3.5.16 lokalizační mikroskopie
3.6.1 specifická hmotnost plochy povrchu
3.6.2 specifický objem plochy povrchu
3.6.3 metoda Brunauer–Emmett–Teller, metoda BET
4 Termíny vztahující se k chemické analýze
4.1 optická spektroskopie
4.2 luminiscence
4.3 fotoluminiscence
4.4 fotoluminescenční spektroskopie, PL spektroskopie
4.5 fluorescenční spektroskopie
4.6 spektroskopie UV–Vis
4.7 fluorescenční korelační spektroskopie, FCS
4.8 infračervená spektroskopie s Fourierovou transformací, FTIR
4.9 Ramanův efekt
4.10 Ramanova spektroskopie
4.11 povrchově zesílená Ramanova spektroskopie, SERS
4.12 hrot rozšířený o Ramanovu spektroskopií, TERS
4.13 elektronový spektrometr
4.14 spektroskopie ztrát energie elektronu, EELS
4.15 Augerův elektron
4.16 Augerova elektronová spektroskopie, AES
4.17 ultrafialová fotoelektronová spektroskopie, UPS
4.18 rentgenová fotoelektronová spektroskopie, XPS
4.19 absorpční spektroskopie rentgenového záření, XAS
4.20 rentgenová fluorescenční spektrometrie, XRF
4.21 energeticky disperzní rentgenová spektroskopie, EDS nebo EDX
4.22 hmotnostní spektroskopie s indukčně vázaným plazmatem, ICP-MS
4.23 hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů, SIMS
4.24 tomografická atomová sonda
4.25 analýza uvolněných plynu, EGA
4.26 nukleární magnetická rezonanční spektroskopie, NMR spektroskopie
4.27 elektronová paramagnetická rezonance, EPR, elektron spinová rezonance (ESR)
4.28 Mössbauerova spektroskopie
4.29 duální polarizační interferometrie, DPI
5.1.1 multikanálové křemenné krystalové mikrovážení, QCM
5.1.2 termogravimetrie, TG
5.1.3 diferenční snímací kalorimetrie, DSC
5.2.1 difrakce rentgenového záření
5.2.2 difrakce zpětně odražených elektronů, EBSD
5.3.1 elektroforetická rychlost
5.3.2 elektroforetická pohyblivost
5.3.3 smyková plocha, smyková rovina
5.3.4 elektrokinetický potenciál, zeta-potenciál
5.3.5 plošná (povrchová) hustota náboje elektrické dvojvrstvy

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu

3.2 Termíny vztahující se k technikám rozptylů

3.2 Terms related to scattering techniques