ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
3.5.10 optická konfokální mikroskopie
metoda mikroskopie, při které je v ideálním případě bod objektu v rovině osvětlen difrakčně omezeným světelným místem a světlo vycházející z tohoto bodu je určeno k zjištění oblasti menší než v centrální oblasti, která se nalézá v difrakčním disku v odpovídající poloze následného rovinného pole
POZNÁMKA 1 k heslu Obraz v rozšířené oblasti je tvořen buď pomocí objektu skenování, nebo současným skenováním osvětlení a skvrny.
POZNÁMKA 2 k heslu Konfokální princip vede ke zlepšení kontrastu a potlačení axiálního rozkladu světla z mimo ohniskových rovin.
[ZDROJ: ISO 10934-2:2007, definice 2.11, modifikováno]
3.5.10 confocal optical microscopy
method for microscopy in which, ideally, a point in the object plane is illuminated by a diffraction-limited spot of light, and light emanating from this point is focused upon and detected from an area smaller than the central area of the diffraction disc situated in the corresponding position in a subsequent field plane
Note 1 to entry: An image of an extended area is formed either by scanning the object, or by scanning the illuminated and detected spots simultaneously.
Note 2 to entry: The confocal principle leads to improved contrast and axial resolution by suppression of light from out-of-focus planes.
[SOURCE: ISO 10934-2:2007, definition 2.11, modified]