Nacházíte se:
Domů »
Terminologická databáze »
ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - elipsometrická kontrastní mikroskopie zesíleného povrchu, SEEC mikroskopie
ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
‹
Nahlásit chybu
3.5.11 elipsometrická kontrastní mikroskopie zesíleného povrchu, SEEC mikroskopie
metoda optického zobrazování pomocí zvýšené asociace kontrastu povrchu snímaného vzorku a zkřížené polarizace odraženého světla optického mikroskopu
POZNÁMKA 1 k heslu Zvýšené kontrasty snímků jsou navrženy tak, aby byly využity pro podmínky protiodrazu, což vede ke zvýšení axiálního faktoru citlivosti optického mikroskopu okolo 100.
3.5.11 surface enhanced ellipsometric contrast microscopy, SEEC microscopy
method of optical imaging using the association of contrast-enhancing surfaces as sample slides and a reflected light optical microscope with crossed polarizers
Note 1 to entry: The contrast-enhancing slides are designed to become anti-reflecting when used in these conditions, leading to an increase in the axial sensitivity of the optical microscope by a factor of around 100.