ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
4.16 Augerova elektronová spektroskopie, AES
metoda, ve které se elektronový spektrometr (4.13) používá k měření distribuce energie Augerova elektronu (4.15) emitovaného z povrchu
POZNÁMKA 1 k heslu Elektronový paprsek v energetickém rozsahu 2 keV až 30 keV je často používán pro vybuzení Augerova elektronu. Augerovy elektrony mohou být vybuzeny rentgenovými paprsky, ionty a dalšími zdroji, ovšem pojem Augerova elektronová spektroskopie, bez další kvalifikace, je obvykle vyhrazena pro elektronový paprsek vyvolaný vybuzením. V případě, kdy je jako zdroj použit rentgenový paprsek, Auger elektronová energie se odkazuje na Fermiho úroveň, ale tam, kde je použit elektronový paprsek, je úroveň na úrovni vakuové. Konečné spektrum může být prezentováno v přímé nebo diferenciální formě.
[ZDROJ: ISO 18115-1, definice 4.1]
4.16 Auger electron spectroscopy, AES
method in which an electron spectrometer (4.13) is used to measure the energy distribution of Auger electrons (4.15) emitted from a surface
Note 1 to entry: An electron beam in the energy range 2 keV to 30 keV is often used for excitation of the Auger electrons. Auger electrons can also be excited with X-rays, ions and other sources but the term Auger electron spectroscopy, without additional qualifiers, is usually reserved for electron-beam-induced excitation. Where an X-ray source is used, the Auger electron energies are referenced to the Fermi level but, where an electron beam is used, the reference may either be the Fermi level or the vacuum level. Spectra conventionally may be presented in the direct or differential forms.
[SOURCE: ISO 18115-1, definition 4.1]