ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
3.5.7 skenovací transmisní elektronová mikroskopie, STEM
metoda vytváření zvětšeného obrazu nebo difrakčního vzoru vzorku tak, že jemně soustředěný elektronový paprsek při skenování povrchu prochází vzorkem a interaguje s ním
POZNÁMKA 1 k heslu Obvykle se používá elektronový paprsek s průměrem menším než 1 nm.
POZNÁMKA 2 k heslu Poskytuje vysoké rozlišení obrazu vnitřní mikrostruktury a tenkého povrchu vzorku [nebo malých částic (2.9)], stejně jako možnost chemické a strukturní charakterizace domén v mikrometrech a submikrometrech prostřednictvím hodnocení spektra rentgenového paprsku a elektronové difrakce vzoru.
[ZDROJ: ISO/TS 10797, definice 3.10, modifikováno]
3.5.7 scanning transmission electron microscopy, STEM
method that produces magnified images or diffraction patterns of the sample by a finely focused electron beam, scanned over the surface and which passes through the sample and interacts with it
Note 1 to entry: Typically uses an electron beam with a diameter of less than 1 nm.
Note 2 to entry: Provides high-resolution imaging of the inner microstructure and the surface of a thin sample [or small particles (2.9)], as well as the possibility of chemical and structural characterization of micrometre and sub-micrometre domains through evaluation of the X-ray spectra and the electron diffraction pattern.
[SOURCE: ISO/TS 10797, definition 3.10, modified]