ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
Třidící znak: | 012003 |
Obor: | Nanotechnologie |
ICS: |
|
Stav: | Neplatná |
3.5.15 super rozlišovací mikroskopie
metoda mikroskopie, při které dochází k prostorovému jemnějšímu rozpadu než je dosaženo při běžné limitní difrakci
POZNÁMKA 1 k heslu Mezi nejčastější super rozlišovací mikroskopie patří lokalizační mikroskopie (3.5.16), využívající stimulovanou emisí (STED) mikroskopie a mikroskopie strukturovaného osvětlení (SIM).
POZNÁMKA 2 k heslu Většina super rozlišovací technicky mikroskopie využívá fluorescenci (3.5.12).
3.5.15 super-resolution microscopy
method of microscopy in which a spatial resolution finer than the limit normally imposed by diffraction is achieved
Note 1 to entry: The most common super-resolution microscopy approaches include localization microscopy (3.5.16), stimulated emission depletion (STED) microscopy and structured illumination microscopy (SIM).
Note 2 to entry: Most super-resolution microscopy techniques rely on fluorescence (3.5.12).