ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
3.5.1 mikroskopie skenující sondou, SPM
metoda zobrazování povrchů na základě rozboru mechanického skenování studovaného povrchu sondou, která průběžně měří odezvy detekce
[ZDROJ: ISO 18115-2, definice 4.31]
POZNÁMKA 1 k heslu Tento generický termín zahrnuje mnoho metod, včetně mikroskopie atomárních sil (AFM) (3.5.2), optická skenovací mikroskopie v blízkém poli (SNOM) (3.5.4), mikroskopie iontovou sondou (SICM) a rastrovací tunelové mikroskopie (STM) (3.5.3).
POZNÁMKA 2 k heslu Rozlišení se liší od STM, kde může být problematika jednotlivých atomů vyřešena rastrovací termickou mikroskopií (SThM), při které je výsledek přibližně limitován 1 mm.
3.5.1 scanning probe microscopy, SPM
method of imaging surfaces by mechanically scanning a probe over the surface under study, in which the concomitant response of a detector is measured
[SOURCE: ISO 18115-2, definition 4.31]
Note 1 to entry: This generic term encompasses many methods including atomic force microscopy (AFM) (3.5.2), scanning near field optical microscopy (SNOM) (3.5.4), scanning ion conductance microscopy (SICM) and scanning tunnelling microscopy (STM) (3.5.3).
Note 2 to entry: The resolution varies from that of STM, where individual atoms can be resolved, to scanning thermal microscopy (SThM) in which the resolution is generally limited to around 1 (m.