ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
3.5.4 optická skenovací mikroskopie v blízkém poli, NSOM, optická skenovací mikroskopie blízkého pole, SNOM
metoda přenosu, při které je optické zobrazování plochy nebo odraz mechanického skenování opticky aktivní sondou, mnohem menší než vlnová délka světla na povrchu
a to za předpokladu, že monitoring přenášeného nebo odraženého světla nebo přidružený signál je v režimu blízkého pole
POZNÁMKA 1 k heslu Pro topografii a sondu je důležité, že skenování probíhá v konstantní výšce. Obvykle se sonda pohybuje v módu smyku detekované a nastavené výšky.
POZNÁMKA 2 k heslu Pokud je pro rozsah optické sondy stanoven aperturou, velikost apertury je obvykle v rozsahu 10 nm až 100 nm, což do značné míry stanovuje rozlišení. Tato forma přístroje je často označována jako přístroj s aperturou NSOM nebo aperturou SNOM na rozdíl od rozptylové NSOM nebo rozptylové SNOM (dříve tzv. apertureless NSOM nebo apertureless SNOM), obecně platí, že „apertura“ nahradila apertureless. Ve tvaru apertureless je rozsah opticky aktivní sondy stanoven osvětlením ostrého kovového nebo pokoveného hrotu s poloměrem obvykle v rozsahu od 10 nm do 100 nm, což do značné míry stanovuje rozlišení.
POZNÁMKA 3 k heslu Kromě optického obrazu může NSOM poskytnout kvantitativní obraz povrchu podobných obrysů, které jsou k dispozici v AFM (3.5.2) a odlišných technikách skenovací sondy.
[ZDROJ: ISO 18115-2, definice 4.18]
3.5.4 near-field scanning optical microscopy, NSOM, scanning near-field optical microscopy, SNOM
method of imaging surfaces optically in transmission or reflection by mechanically scanning an optically active probe much smaller than the wavelength of light over
the surface whilst monitoring the transmitted or reflected light or an associated signal in the near-field regime
Note 1 to entry: Topography is important and the probe is scanned at constant height. Usually the probe is oscillated in the shear mode to detect and set the height.
Note 2 to entry: Where the extent of the optical probe is defined by an aperture, the aperture size is typically in the range 10 nm to 100 nm, and this largely defines the resolution. This form of instrument is often called an aperture NSOM or aperture SNOM to distinguish it from a scattering NSOM or scattering SNOM (previously called apertureless NSOM or apertureless SNOM) although, generally, the adjective “aperture” is omitted. In the apertureless form, the extent of the optically active probe is defined by an illuminated sharp metal or metal-coated tip with a radius typically in the range 10 nm to 100 nm, and this largely defines the resolution.
Note 3 to entry: In addition to the optical image, NSOM can provide a quantitative image of the surface contours similar to that available in AFM (3.5.2) and allied scanning-probe techniques.
[SOURCE: ISO 18115-2, definition 4.18]