Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - skenovací elektronová mikroskopie, SEM

ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu

Stáhnout normu:	ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2016-11-01
Zdroj:	https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en
Třidící znak:	012003
Obor:	Nanotechnologie
ICS:	01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví) 07.120 - Nanotechnologie
Stav:	Neplatná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

3.5.5 skenovací elektronová mikroskopie, SEM

metoda, která zkoumá a analyzuje fyzikální informace (jako sekundární elektron, odražený elektron, absorbovaný elektron a radiaci rentgenového paprsku) získávaných generováním elektronových paprsků a skenováním povrchu vzorku, pro stanovení struktury, složení a topografie vzorku

[ZDROJ: ISO 17751, definice 4.10, modifikováno]

3.5.5 scanning electron microscopy, SEM

method that examines and analyses the physical information (such as secondary electron, backscattered electron, absorbed electron and X-ray radiation) obtained by generating electron beams and scanning the surface of the sample in order to determine the structure, composition and topography of the sample

[SOURCE: ISO 17751, definition 4.10, modified]