Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - transmisní elektronová mikroskopie, TEM

ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu

Stáhnout normu:	ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2016-11-01
Zdroj:	https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en
Třidící znak:	012003
Obor:	Nanotechnologie
ICS:	01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví) 07.120 - Nanotechnologie
Stav:	Neplatná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

3.5.6 transmisní elektronová mikroskopie, TEM

metoda vytváření zvětšeného obrazu nebo difrakčního vzoru vzorku tak, že použije elektronový paprsek, který interaguje se vzorkem, kterým prochází

[ZDROJ: ISO 29301:2010, definice 3.37, modifikováno]

method that produces magnified images or diffraction patterns of the sample by an electron beam which passes through the sample and interacts with it

[SOURCE: ISO 29301:2010, definition 3.37, modified]