ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
4.18 rentgenová fotoelektronová spektroskopie, XPS
metoda, ve které se elektronový spektrometr (4.13) používá k měření energetického rozdělení elektronů
a elektronů Augera (4.15) emitovaných z povrchu ozářeného fotony rentgenového paprsku
POZNÁMKA 1 k heslu Rentgenové záření z běžně používaných zdrojů je nemonochromatické Al Ka a Mg Ka rentgenové záření s 1 486,6 eV respektive v 1 253,6 eV. Moderní přístroje používají monochromatické rentgenové záření Al Ka. Některé přístroje používají různé zdroje rentgenového záření s jinými anodami nebo synchrotronizovaným zářením.
[ZDROJ: ISO 18115-1, definice 4.23]
4.18 X-ray photoelectron spectroscopy, XPS
method in which an electron spectrometer (4.13) is used to measure the energy distribution of photoelectrons
and Auger electrons (4.15) emitted from a surface irradiated by X-ray photons
Note 1 to entry: X-ray sources in common use are unmonochromated Al Ka and Mg Ka X-rays at 1 486,6 eV and 1 253,6 eV, respectively. Modern instruments also use monochromated Al Ka X-rays. Some instruments make use of various X-ray sources with other anodes or of synchrotron radiation.
[SOURCE: ISO 18115-1, definition 4.23]