ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
3.2.2 maloúhlový rozptyl neutronů, SANS
metoda, při které je měřena, při malém úhlu výchylka rozptýlených paprsků neutronů vzorku, intenzita jejich rozptýlení
POZNÁMKA 1 k heslu Úhel rozptylu je obvykle mezi 0,5° a 10° v rámci studia struktury materiálu v rozsahu délky stupnice
od 1 nm do 100 nm. Metoda poskytuje informace o velikosti částic (2.9) a mezním rozsahu tvarů částic rozptýlených v homogenním médiu.
3.2.2 small angle neutron scattering, SANS
method in which a beam of neutrons is scattered from a sample and the scattered neutron intensity is measured for small angle deflection
Note 1 to entry: The scattering angle is usually between 0,5° and 10° in order to study the structure of a material on the
length scale of 1 nm to 100 nm. The method provides information on the sizes of the particles (2.9) and to a limited extent the shapes of the particles dispersed in homogeneous medium.