Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - difrakce zpětně odražených elektronů, EBSD

ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu

Stáhnout normu:	ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2016-11-01
Zdroj:	https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en
Třidící znak:	012003
Obor:	Nanotechnologie
ICS:	01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví) 07.120 - Nanotechnologie
Stav:	Neplatná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

5.2.2 difrakce zpětně odražených elektronů, EBSD

proces difrakce, který vzniká mezi rovinami atomů vysoce nakloněného krystalického zkušebního vzorku při zpětném odrazu elektronů, pokud je osvětlen dopadajícím stacionárním elektronovým paprskem

[ZDROJ: ISO 24173:2009, definice 3.7]

5.2.2 electron backscatter diffraction, EBSD

diffraction process that arises between the backscattered electrons and the atomic planes of a highly tilted crystalline specimen when illuminated by a stationary incident electron beam

[SOURCE: ISO 24173:2009, definition 3.7]