Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - rentgenová fluorescenční spektrometrie, XRF

ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu

Stáhnout normu:	ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2016-11-01
Zdroj:	https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en
Třidící znak:	012003
Obor:	Nanotechnologie
ICS:	01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví) 07.120 - Nanotechnologie
Stav:	Neplatná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

4.20 rentgenová fluorescenční spektrometrie, XRF

sekundárního záření vznikající po dopadu paprsku rentgenového záření o vysoké intenzitě na materiál umístěný do dráhy dopadajícího paprsku

POZNÁMKA 1 k heslu Vlnové délky a energie sekundárního záření jsou charakteristické pro daný materiál.

[ZDROJ: ISO 3497:2000]

secondary radiation occurring when a high intensity incident X-ray beam impinges upon a material placed in the path of the incident beam

Note 1 to entry: The secondary emission has wavelengths and energies characteristic of that material.

[SOURCE: ISO 3497:2000]