Nacházíte se:
Domů »
Terminologická databáze »
ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - totální interní odrazová fluorescenční mikroskopie, TIRF mikroskopie
ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
‹
Nahlásit chybu
3.5.14 totální interní odrazová fluorescenční mikroskopie, TIRF mikroskopie
metoda, při které je fluorescence (3.5.12) vybuzena v tenké vrstvě pomocí tlumených vln vytvářejících úplný interní odraz
[ZDROJ: ISO 10934-2:2007, definice 2.51, modifikováno]
3.5.14 total internal reflection fluorescence microscopy, TIRF microscopy
method in which fluorescence (3.5.12) is excited in a thin layer by an evanescent wave produced by total internal reflection
[SOURCE: ISO 10934-2:2007, definition 2.51, modified]