ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
4.14 spektroskopie ztrát energie elektronu, EELS
metoda, při které elektronový spektrometr (4.13) často vystavovaný píkům v důsledku specifické neelastické ztráty procesů, měří energetické spektrum elektronů emitované z nominálního monoenergetického zdroje po nepružných interakcích se vzorkem
POZNÁMKA 1 k heslu Spektrum získané pomocí incidentního elektronového paprsku se stejnou energií jako při Auger
elektronové spektroskopii (AES) (4.16), nebo rentgenové fotolektronové spektroskopii (XPS) (4.18), při které se pík aproximuje k energetické ztrátě spektra s tímto spojeným píkem.
POZNÁMKA 2 k heslu Spektrum ztrát energie elektronů se měří pomocí incidentu elektronového paprsku, který je funkcí energie paprsku, úhlu dopadu paprsku, úhlu emise a elektronické vlastnosti vzorku.
[ZDROJ: ISO 18115-1, definice 5.197, modifikováno]
4.14 electron energy loss spectroscopy, EELS
method in which an electron spectrometer (4.13) measures the energy spectrum of electrons from a nominally monoenergetic source emitted after inelastic interactions with the sample, often exhibiting peaks due to specific inelastic loss processes
Note 1 to entry: The spectrum obtained using an incident-electron beam of about the same energy as in Auger electron
spectroscopy (AES) (4.16) or X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) (4.18) peak approximates to the energy loss spectrum associated with that peak.
Note 2 to entry: The electron energy loss spectrum, measured with an incident-electron beam, is a function of the beam energy, the angle of incidence of the beam, the angle of emission and the electronic properties of the sample.
[SOURCE: ISO 18115-1, definition 5.197, modified]