Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - difrakce rentgenového záření

ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu

Stáhnout normu:	ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2016-11-01
Zdroj:	https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en
Třidící znak:	012003
Obor:	Nanotechnologie
ICS:	01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví) 07.120 - Nanotechnologie
Stav:	Neplatná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

5.2.1 difrakce rentgenového záření

metoda k získání krystalografické informace o vzorku pozorováním difrakce předlohy vzhledem k nárazu paprsku rentgenového záření na vzorek

POZNÁMKA 1 k heslu Metoda může být použita pro odhad velikosti koherentního rozptylu regionů.

method to obtain crystallographic information about a sample by observing the diffraction pattern due to an X-ray beam hitting a sample

Note 1 to entry: The method can be used to estimate the size of coherent scattering regions.