ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
3.3.1.1 mikroskopie skenovací sondou
SPM
metoda zobrazování povrchů mechanickým skenováním sondy nad zkoumaným povrchem, při níž se měří souběžná odezva detektoru.
Poznámka 1 k záznamu: Tento obecný termín zahrnuje mnoho metod včetně mikroskopie atomárních sil (AFM) (3.3.1.2), skenovací optické mikroskopie v blízkém poli (SNOM), skenovací iontově vodivostní mikroskopie (SICM) a skenovací tunelové mikroskopie (STM) (3.3.1.3).
Poznámka 2 k položce: Rozlišení se liší od STM, kde lze rozlišit jednotlivé atomy, až po skenovací termální mikroskopii (SThM), u níž je rozlišení obecně omezeno na přibližně 1 μm.
[ZDROJ: ISO 18115-2:2013, 3.30]
3.3.1.1 scanning-probe microscopy
SPM
method of imaging surfaces by mechanically scanning a probe over the surface under study, in which the concomitant response of a detector is measured
Note 1 to entry: This generic term encompasses many methods including atomic force microscopy (AFM) (3.3.1.2), scanning near field optical microscopy (SNOM), scanning ion conductance microscopy (SICM) and scanning tunnelling microscopy (STM) (3.3.1.3).
Note 2 to entry: The resolution varies from that of STM, where individual atoms can be resolved, to scanning thermal microscopy (SThM) in which the resolution is generally limited to around 1 μm.
[SOURCE: ISO 18115‑2:2013, 3.30]