ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
3.4.1.13 turbostrategické stohování
<2D material> stohování vrstev (3.1.1.5) 2D materiálů (3.1.1.1), které nelze popsat jako Bernalovo (3.4.1.10) nebo romboedrické stohování (3.4.1.11), ale které má relativní úhel stohování (3.4.1.12) mezi vrstvami a které neumožňuje vytvořit jiné rodiny atomárních rovin než ty, které jsou rovnoběžné se základní rovinou, protože stohované vrstvy vykazují relativní a náhodný úhel natočení nebo souměrnou rotaci mezi vrstvami.
Poznámka 1 k záznamu: V souladu s tím jsou jedinými difrakčními píky se třemi Millerovými indexy, které lze pozorovat ve vzorcích XRD (3.3.1.8), píky 001 (002, 004 atd.); ostatní jsou pouze s dvěma indexy (obvykle 10 a 11).
3.4.1.13 turbostratic stacking
<2D material> stacking of layers (3.1.1.5) of 2D materials (3.1.1.1) that cannot be described as Bernal (3.4.1.10) or rhombohedral stacking (3.4.1.11), instead having a relative stacking angle (3.4.1.12) between the layers and which does not allow to develop atomic plane families other than that parallel to the basal plane, because the stacked layers exhibit a relative and random rotational angle or commensurate rotation between the layers
Note 1 to entry: Correspondingly, the only diffraction peaks with three Miller indices seen in XRD (3.3.1.8) patterns are 001 peaks (002, 004, etc.); the others are 2-indices only (typically 10 and 11).