Nacházíte se:
Domů »
Terminologická databáze »
ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - skenovací elektronová mikroskopie
ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
‹
Nahlásit chybu
3.3.1.4 skenovací elektronová mikroskopie
SEM
metoda, která zkoumá a analyzuje fyzikální informace (např. sekundární elektrony, zpětně rozptýlené elektrony, absorbované elektrony a rentgenové záření) získané generováním elektronových paprsků a skenováním povrchu vzorku za účelem určení struktury, složení a topografie vzorku.
[ZDROJ: ISO/TS 80004-6:2013, 3.5.5]
Upozornění: Jedná se pouze o automatický informativní překlad pro pracovní účely, nejde o oficiální překlad ČSN!
3.3.1.4 scanning electron microscopy
SEM
method that examines and analyses the physical information (such as secondary electron, backscattered electron, absorbed electron and X-ray radiation) obtained by generating electron beams and scanning the surface of the sample in order to determine the structure, composition and topography of the sample
[SOURCE: ISO/TS 80004‑6:2013, 3.5.5]