ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
‹
Nahlásit chybu
3.4.1.2 bodová vada
<2D material> defekt (3.4.1.1), který se vyskytuje pouze v jednom mřížkovém bodě 2D materiálu nebo v jeho okolí (3.1.1.1)
Poznámka 1 k položce: Bodové defekty obecně zahrnují nejvýše několik chybějících, dislokovaných nebo odlišných atomů, které vytvářejí vakanci nebo vakance, další atomy (intersticiální defekty) nebo nahrazené atomy.
Upozornění: Jedná se pouze o automatický informativní překlad pro pracovní účely, nejde o oficiální překlad ČSN!
3.4.1.2 point defect
<2D material> defect (3.4.1.1) that occurs only at or around a single lattice point of a 2D material (3.1.1.1)
Note 1 to entry: Point defects generally involve at most a few missing, dislocated or different atoms creating a vacancy or vacancies, extra atoms (interstitial defects) or replaced atoms.