ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
3.3.3.4 ultrafialová fotoelektronová spektroskopie
UPS
metoda, při níž se k měření rozložení energie fotoelektronů emitovaných z povrchu ozářeného ultrafialovými fotony používá elektronový spektrometr.
Poznámka 1 k položce: K běžně používaným zdrojům ultrafialového záření patří různé typy výbojů, které mohou generovat rezonanční čáry různých plynů (např. emisní čáry He I a He II o energiích 21,2 eV, resp. 40,8 eV). Pro proměnné energie se používá synchrotronové záření.
[ZDROJ: ISO 18115-1:2013, 4.22]
3.3.3.4 ultraviolet photoelectron spectroscopy
UPS
method in which an electron spectrometer is used to measure the energy distribution of photoelectrons emitted from a surface irradiated by ultraviolet photons
Note 1 to entry: Ultraviolet sources in common use include various types of discharges that can generate the resonance lines of various gases (e.g. the He I and He II emission lines at energies of 21,2 eV and 40,8 eV, respectively). For variable energies, synchrotron radiation is used.
[SOURCE: ISO 18115‑1:2013, 4.22]