Nacházíte se:
Domů »
Terminologická databáze »
ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Silová mikroskopie s Kelvinovou sondou
ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
‹
Nahlásit chybu
3.3.3.3 Silová mikroskopie s Kelvinovou sondou
KPFM
AFM v dynamickém režimu využívající vodivý hrot sondy k měření prostorových nebo časových změn relativních elektrických potenciálů hrotu a povrchu.
Poznámka 1 k záznamu: Změny relativních potenciálů odrážejí změny pracovní funkce povrchu.
[ZDROJ: ISO 18115-2:2013, 3.12]
Upozornění: Jedná se pouze o automatický informativní překlad pro pracovní účely, nejde o oficiální překlad ČSN!
3.3.3.3 Kelvin-probe force microscopy
KPFM
dynamic-mode AFM using a conducting probe tip to measure spatial or temporal changes in the relative electric potentials of the tip and the surface
Note 1 to entry: Changes in the relative potentials reflect changes in the surface work function.
[SOURCE: ISO 18115‑2:2013, 3.12]