ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
3.3.3.7 bezkontaktní mikrovlnná metoda
metoda měření povrchové vodivosti nebo ekvivalentně odporu plechu pomocí rezonanční dutiny zahrnuje sledování posunu rezonanční frekvence a změny činitele jakosti před a po vložení vzorku do dutiny v kvantitativní korelaci s plochou povrchu vzorku.
Poznámka 1 k záznamu: Metoda je rychlá a bezkontaktní.
Pojmy týkající se vlastností 2D materiálů
Charakteristiky a termíny týkající se strukturních a rozměrových vlastností 2D materiálů
3.3.3.7 non-contact microwave method
method to measure surface conductance or equivalently sheet resistance by resonant cavity involves monitoring the resonant frequency shift and change in the quality factor before and after insertion of the specimen into the cavity in a quantitative correlation with the specimen surface area
Note 1 to entry: The method is fast and non-contacting.
Terms related to 2D materials characteristics
Characteristics and terms related to structural and dimensional properties of 2D materials