Nacházíte se:
Domů »
Terminologická databáze »
ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - transmisní elektronová mikroskopie
ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
‹
Nahlásit chybu
3.3.1.5 transmisní elektronová mikroskopie
TEM
metoda, která vytváří zvětšené obrazy nebo difrakční obrazce vzorku pomocí elektronového paprsku, který prochází vzorkem a interaguje s ním.
[ZDROJ: ISO/TS 80004-6:2013, 3.5.6]
Upozornění: Jedná se pouze o automatický informativní překlad pro pracovní účely, nejde o oficiální překlad ČSN!
3.3.1.5 transmission electron microscopy
TEM
method that produces magnified images or diffraction patterns of the sample by an electron beam which passes through the sample and interacts with it
[SOURCE: ISO/TS 80004‑6:2013, 3.5.6]