Informační systém Uvádění výrobků na trh
Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Rentgenová fotoelektronová spektroskopie

ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály

Stáhnout normu: ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti)
Datum vydání/vložení: 2021-02-01
Třidící znak: 012003
Obor: Nanotechnologie
ICS:
  • 01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví)
  • 07.120 - Nanotechnologie
Stav: Platná
Terminologie normy
Nahlásit chybu

3.3.2.2 Rentgenová fotoelektronová spektroskopie


XPS


metoda, při níž se elektronový spektrometr používá k měření rozložení energie fotoelektronů a Augerových elektronů emitovaných z povrchu ozářeného rentgenovými fotony.


Poznámka 1 k záznamu: Běžně používané zdroje rentgenového záření jsou nemonochromované rentgenové záření Al Kα a Mg Kα o energii 1 486,6 eV, resp. 1 253,6 eV. Moderní přístroje používají také monochromované rentgenové záření Al Kα. Některé přístroje využívají různé zdroje rentgenového záření s jinými anodami nebo synchrotronové záření.


[ZDROJ: ISO/TS 80004-6:2013, 4.18].

Upozornění: Jedná se pouze o automatický informativní překlad pro pracovní účely, nejde o oficiální překlad ČSN!

3.3.2.2 X-ray photoelectron spectroscopy


XPS


method in which an electron spectrometer is used to measure the energy distribution of photoelectrons and Auger electrons emitted from a surface irradiated by X-ray photons


Note 1 to entry: X-ray sources in common use are unmonochromated Al Kα and Mg Kα X-rays at 1 486,6 eV and 1 253,6 eV, respectively. Modern instruments also use monochromated Al Kα X-rays. Some instruments make use of various X-ray sources with other anodes or of synchrotron radiation.


[SOURCE: ISO/TS 80004‑6:2013, 4.18]

Využíváme soubory cookies, díky kterým Vám mužeme poskytovat lepší služby. Využíváním našich služeb s jejich využitím souhlasíte. Více zde Souhlasím