ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
3.3.1.3 skenovací tunelová mikroskopie
STM
Režim SPM pro zobrazování vodivých povrchů mechanickým skenováním ostrého, napěťově orientovaného, vodivého hrotu sondy po jejich povrchu, při kterém se pro generování obrazu používají údaje o tunelovém proudu a vzdálenosti hrotu od povrchu.
Poznámka 1 k záznamu: STM lze provádět ve vakuu, v kapalině nebo ve vzduchu. S vhodnými vzorky a ostrými sondami lze dosáhnout atomárního rozlišení a u ideálních vzorků může poskytnout informace o lokalizované vazbě kolem povrchových atomů.
Poznámka 2 k položce: Obrázky lze vytvořit z výškových dat při konstantním tunelovém proudu nebo tunelovém proudu při konstantní výšce nebo jiných režimech při definovaných relativních potenciálech hrotu a vzorku.
Poznámka 3 k položce: STM lze použít k mapování hustoty stavů na povrchu nebo v ideálním případě kolem jednotlivých atomů. Obrazy povrchů se mohou výrazně lišit v závislosti na vychýlení hrotu, a to i pro stejnou topografii.
[ZDROJ: ISO 18115-2:2013, 3.34]
3.3.1.3 scanning tunnelling microscopy
STM
SPM mode for imaging conductive surfaces by mechanically scanning a sharp, voltage-biased, conducting probe tip over their surface, in which the data of the tunnelling current and the tip-surface separation are used in generating the image
Note 1 to entry: STM can be conducted in vacuum, a liquid or air. Atomic resolution can be achieved with suitable samples and sharp probes and can, with ideal samples, provide localized bonding information around surface atoms.
Note 2 to entry: Images can be formed from the height data at a constant tunnelling current or the tunnelling current at a constant height or other modes at defined relative potentials of the tip and sample.
Note 3 to entry: STM can be used to map the densities of states at surfaces or, in ideal cases, around individual atoms. The surface images can differ significantly, depending on the tip bias, even for the same topography.
[SOURCE: ISO 18115‑2:2013, 3.34]