Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - planární defekt

ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály

Stáhnout normu:	ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2021-02-01
Třidící znak:	012003
Obor:	Nanotechnologie
ICS:	01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví) 07.120 - Nanotechnologie
Stav:	Platná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

3.4.1.6 planární defekt

<2D material> defekt (3.4.1.1) vyskytující se v pořadí vrstvení (3.1.1.5) 2D materiálu (3.1.1.1)

Upozornění: Jedná se pouze o automatický informativní překlad pro pracovní účely, nejde o oficiální překlad ČSN!

<2D material> defect (3.4.1.1) occurring in the stacking sequence of the layers (3.1.1.5) of a 2D material (3.1.1.1)