Nacházíte se:
Domů »
Terminologická databáze »
ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - interferenční účinky substrátu
ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
‹
Nahlásit chybu
3.4.3.1 interferenční účinky substrátu
<2D material> efekt, který umožňuje identifikovat jedno- až několikavrstvé 2D materiály (3.1.1.1) na křemíkových substrátech s oxidovou vrstvou určité tloušťky díky pozorované změně interferenční barvy.
Upozornění: Jedná se pouze o automatický informativní překlad pro pracovní účely, nejde o oficiální překlad ČSN!
3.4.3.1 substrate interference effects
<2D material> effect allowing singleto few-layer 2D materials (3.1.1.1) to be identified on silicon substrates with an oxide layer of certain thicknesses, due to the change in interference colour observed