Nacházíte se:
Domů »
Terminologická databáze »
ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - difrakce elektronů s nízkou energií
ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
‹
Nahlásit chybu
3.3.1.10 difrakce elektronů s nízkou energií
LEED
metoda stanovení povrchové struktury monokrystalických materiálů bombardováním kolimovaným svazkem elektronů s nízkou energií a pozorováním difraktovaných elektronů.
Poznámka 1 k záznamu: Meziaatomové vzdálenosti lze určit měřením vzdáleností mezi pozorovanými skvrnami v difraktovaném elektronovém obrazci.
Metody chemické charakterizace
Upozornění: Jedná se pouze o automatický informativní překlad pro pracovní účely, nejde o oficiální překlad ČSN!
3.3.1.10 low energy electron diffraction
LEED
method to determine the surface structure of single-crystalline materials by bombardment with a collimated beam of low energy electrons and the observation of the diffracted electrons
Note 1 to entry: The interatomic distances can be determined by measuring the distance between the observed spots in the diffracted electron pattern.
Chemical characterization methods