Nacházíte se:
Domů »
Terminologická databáze »
ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Difrakce rentgenového záření
ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
‹
Nahlásit chybu
3.3.1.8 Difrakce rentgenového záření
XRD
metoda získávání krystalografických informací o vzorku pozorováním difrakčního obrazce vzniklého dopadem rentgenového paprsku na vzorek.
Poznámka 1 k záznamu: Metodu lze použít k odhadu velikosti koherentních oblastí rozptylu.
[ZDROJ: ISO 80004-6:2013, 5.2.1]
Upozornění: Jedná se pouze o automatický informativní překlad pro pracovní účely, nejde o oficiální překlad ČSN!
3.3.1.8 X-ray diffraction
XRD
method to obtain crystallographic information about a sample by observing the diffraction pattern due to an X-ray beam hitting a sample
Note 1 to entry: The method can be used to estimate the size of coherent scattering regions.
[SOURCE: ISO 80004‑6:2013, 5.2.1]