ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) - Nanotechnologie - Slovník - Část 13: Grafen a příbuzné dvourozměrné (2D) materiály
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-13 (by DeepL) (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2021-02-01 |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Platná |
3.3.1.2 mikroskopie atomárních sil
AFM
metoda zobrazování povrchů mechanickým snímáním jejich kontur, při níž se sleduje výchylka ostrého hrotu snímajícího povrchové síly, upevněného na poddajné konzole.
Poznámka 1 k záznamu: AFM může poskytnout kvantitativní výškový obraz izolačních i vodivých povrchů.
Poznámka 2 k záznamu: Některé přístroje AFM pohybují vzorkem ve směrech x, y a z při zachování konstantní polohy hrotu a jiné pohybují hrotem při zachování konstantní polohy vzorku.
Poznámka 3 k položce: AFM lze provádět ve vakuu, v kapalině, v řízené atmosféře nebo ve vzduchu. Atomového rozlišení lze dosáhnout s vhodnými vzorky s ostrými hroty a při použití vhodného zobrazovacího režimu.
Poznámka 4 k záznamu: Lze měřit mnoho typů sil, například normálové síly nebo boční, třecí či smykové síly. Pokud se měří posledně jmenovaná síla, označuje se tato technika jako mikroskopie bočních, třecích nebo smykových sil. Tento obecný termín zahrnuje všechny tyto typy silové mikroskopie.
Poznámka 5 k položce: AFM lze použít k měření normálových sil na povrchu v jednotlivých bodech pole pixelů použitého k zobrazování.
Poznámka 6 k položce: U typických hrotů AFM s poloměrem < 100 nm by normálová síla měla být menší než asi 0,1 μN v závislosti na materiálu vzorku, jinak dochází k nevratné deformaci povrchu a nadměrnému opotřebení hrotu.
[ZDROJ: ISO 18115-2:2013, 3.2]
3.3.1.2 atomic force microscopy
AFM
method for imaging surfaces by mechanically scanning their surface contours, in which the deflection of a sharp tip sensing the surface forces, mounted on a compliant cantilever, is monitored
Note 1 to entry: AFM can provide a quantitative height image of both insulating and conducting surfaces.
Note 2 to entry: Some AFM instruments move the sample in the x-, y- and z-directions while keeping the tip position constant and others move the tip while keeping the sample position constant.
Note 3 to entry: AFM can be conducted in vacuum, a liquid, a controlled atmosphere or air. Atomic resolution may be attainable with suitable samples with sharp tips and by using an appropriate imaging mode.
Note 4 to entry: Many types of force can be measured, such as the normal forces or the lateral, friction or shear force. When the latter is measured, the technique is referred to as lateral, frictional or shear force microscopy. This generic term encompasses all of these types of force microscopy.
Note 5 to entry: AFMs can be used to measure surface normal forces at individual points in the pixel array used for imaging.
Note 6 to entry: For typical AFM tips with radii < 100 nm, the normal force should be less than about 0,1 μN, depending on the sample material or irreversible surface deformation and excessive tip wear occurs.
[SOURCE: ISO 18115‑2:2013, 3.2]